蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。

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PicoFemto(皮飞)透射电镜TEM加热样品杆，为TEM铜环样品提供室温到高500摄氏度高温的原位变温环境的样品杆。可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。

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扫描电子显微镜

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JCM-5000型 NeoScope台式扫描电子显微镜，补充和发展了光学显微镜和传统扫描电子显微镜。该NeoScope可像数码相机一样操作简单，在轻松获得大倍数图像的同时，保持着高分辨率和大景深，具有扫描电子显微镜的强大电子光学性能。

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透射电子显微镜(高分辨率通用型TEM)

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TESCAN GAIA3电镜系统完美的集成了超高分辨率的电子光学系统和高性能的离子束系统，二者配置于同一样品室上。GAIA3电镜以MAIA3场发射扫描电镜为平台，在保留MAIA3优越性能的基础上，增加了使用聚焦离子束进行样品表面处理的功能。

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对于相同的放大倍率，高数值孔径物镜收集更多的光线，产生一个明亮和更好的校正图像的整体形象更好地成反比是放大率的平方物镜的解决。

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Hitachi FE-SEM 5000电子扫描显微镜　　　我们专业提供以下半导体FE-SEM量测设备：型号： Hitachi FE-SEM 5000原设备制造商：Hitachi类别：电子扫描显微镜 量测设备 状态：专业翻新 (.) 或者AS IS WHERE IS技术指标：等于原厂技

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扫描隧道显微镜STM

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